利用频域时钟抖动分析加快设计验证过程

时间:2009-03-04 14:15来源:世纪电源网

摘要:Usingfrequencydomainclockjitteranalysistospeedupdesigncertificationprocess...

Using frequency domain clock jitter analysis to speed up design certification process
作者:安捷伦科技 Akihiko Oginuma   时间:2009-03-04  来源:电子产品世界   浏览评论

其他周期分量的来源可能是数据或线路的干扰,经互调后可能位于线上,也显示为PJ分量。只要PJ分量表现的远离频率,它就极有可能插入带通滤波器(或低通滤波器)来消除这些。然而,问题是周期在什么时间接近频率,因为高频高Q滤波器很难得到。参考的RJ也一样,除法器可能添加宽带噪声,这可能会使输出信号的RJ增加。

  要诊断各种问题,设计人员必须表征有关电路物理布局和/或工作环境下的

 

  图4 实际环境中的

  通过相位噪声测量技术表征

  全面分析信号要求达到飞秒级精度,只有相位噪声测量技术才能达到这种精度。相位噪声分析提供两种主要测量:S?(f?)和?(t),它们根据相位噪声测量带宽限制收集的所有相位信息。

  在相位噪声分析仪上分析RJ可以完成两个重要目标。首先,通过集成RJ频谱,可以提取预定带宽中的相应RJ高斯分布宽度。其次,通过分析S?(f?)的幂级数行为确定RJ的主要原因(图5)。

  在相位噪声频谱中可以看到PJ分量的杂散。所以PJ频率知识对于诊断问题非常有帮助。参考每个PJ频率的PJ rms也能帮您了解每个PJ分量对总体的影响,查看去除主要PJ分量之后总体的变化(图6)。

 

  图5 分析相位噪声测量的RJ

 

  图6 相位噪声测量的PJ频率通过先进的体系结构进行实时测量

  与传统的测量模式不同,带有E5001A软件的E5052B SSA可以对相位噪声测量进行实时分析。该仪器使用PLL提供参考源。它能够自动检测频率,在几毫秒内把内置参考源自动调谐为频率,测量相位检波器保持PLL所产生的噪声信号。它在250 MSa/s ADC上捕获噪声信号,从而可以进行100 MHz带宽测量。该测量涵盖OC-192分析范围。实时FFT可以获得频域数据,并能显著提高测量速度。例如,1 kHz到100 MHz带宽的测量每次只需0.3秒。

 

  图7 Agilent E5052B信号源分析仪的先进体系结构

  利用交叉关联技术获得出色的本底噪声

  E5052B测量分辨率和本底噪声非常低,通常10Gbps速率时的RJ本底噪声仅为几飞秒。由于ADC的动态范围有限,且其内部参考时基的剩余较大,高性能(实时或采样)示波器的本底噪声通常在一百飞秒以上。E5052B通过检测基带(其中较大的载波信号已删除)的相位噪声来保持宽动态范围。E5052B利用两个独立的内部测量通道之间的独特交叉关联技术,将测量极限扩大到低于其内部时基的残余。(参见图7)与目前的高性能示波器相比,E5052B利用这种交叉关联技术把本底噪声降低了100倍到1,000倍(图8)。

 

  图8 利用交叉关联技术获得的出色本底噪声

  实时仿真

  图9表示直接应用于相位噪声信号的功能的结果。您可以看到如何消除频谱的不同部分,使您可以分析与应用相关的。E5052B对相位噪声测量的实时分析功能可加快您的设计进程。E5052B SSA可以导入任何函数,使您可以轻松快速地仿真设备到设备的

 

  图9 仿真

  结语

  对于高速串行数据应用,分析的主要目的是确定参考对系统比特误码率的影响。最精确的方法是对应用发射机(和接收机)在最坏情况下的传递函数,并测量获得的RJ和PJ。在E5052B上运行的E5001A精确分析软件改变了传统的测量方式,它不仅能以飞秒级分辨率对进行全面分析,而且具有出色的易用性和实时分析功能,可以帮助您加快设计验证过程。

 

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