镓仁半导体实现晶圆级6英寸斜切氧化镓衬底制备

时间:2025-06-25 10:39来源:

摘要:镓仁半导体实现晶圆级6英寸斜切氧化镓衬底制备2025年2月,杭州镓仁半导体有限公司(以下简称镓仁半导体)在氧化镓晶体生长与加工技术方面取得

镓仁半导体实现晶圆级6英寸斜切氧化镓衬底制备

2025年2月,杭州镓仁半导体有限公司(以下简称“镓仁半导体”)在氧化镓晶体生长与加工技术方面取得了新突破,成功实现6英寸斜切氧化镓衬底的制备,其中衬底主面为(100)面沿 [00-1] 方向斜切4°。


 
图1 镓仁半导体6英寸斜切氧化镓衬底
 
表征结果显示:衬底质量方面,衬底XRD半高宽<90 arcsec,质量已达到国际领先水平;衬底表面形貌方面,形成了明显的台阶面,有利于进行台阶流外延生长;衬底面型参数方面,翘曲度(warp)为14.7 μm,弯曲度(Bow)为5.7 μm,总厚度偏差(TTV)为5.7 μm,面型参数已达到晶圆级标准,与同等尺寸碳化硅衬底产品水平相当。

 
图3 XRD数据

 
图3表面粗糙度
 

 
图4面型参数测试结果
 
**氧化镓衬底做斜切的意义**
(100)正切氧化镓衬底上外延薄膜往往以岛状生长模式为主,在岛状结构中含有失配位错以释放应变,岛和岛之间存在小角度取向偏差,彼此汇聚后会产生高位错密度的边界层,同时还会导致外延层表面粗糙度增大,因此外延生长时要避免岛状生长模式
而(100)斜切衬底表面会形成台阶面,外延生长时原子倾向于吸附在台阶边缘进行生长,可以使外延薄膜的生长模式转变为台阶流生长能够避免晶格缺陷的形成,同时由于台阶流生长的特性,台阶流外延生长表面与衬底几乎无区别,依然保持较低的粗糙度
此外,基于研发团队此前的研究结果,沿[00-1]会方向斜切暴露出 (-201) 的台阶面,还能抑制孪晶缺陷的形成【超链接,严宇超孪晶论文新闻】。
德国莱布尼茨研究所在4°斜切的(100)氧化镓衬底上成功实现了垂直FinFET器件的制备,平均击穿场强达到2.7 MV/cm。(Kornelius Tetzner et al 2023 Jpn. J. Appl. Phys. 62 SF1010)。目前,镓仁半导体已与德国莱布尼茨晶体生长研究所的孵化企业NextGO Epi 签署全球战略合作协议,双方将依托技术优势协同攻关,聚焦超宽禁带半导体材料氧化镓的研发与产业化发展,为全球半导体产业注入新动能。
 
**氧化镓衬底做斜切的难点**
氧化镓衬底做斜切具有显著优势,但要想实现产业化大规模应用,就需要制备出大尺寸斜切衬底。而与小尺寸斜切衬底相比,制备大尺寸斜切衬底的难度呈几何倍数上升,主要难点体现在以下两个方面:
(1)大尺寸厚晶锭的制备
由于氧化镓单晶生长存在强各向异性,晶锭主面通常限定在少数几个低指数晶面中,而(100)晶面由于表面能低,是主面形成最稳定、成本最低的晶面,在产业化方面具有天然优势。但是,若要制备斜切衬底,尤其是大尺寸斜切衬底,就对晶锭的直径与厚度均提出了严苛的要求。以6英寸斜切衬底为例,制作一片6英寸斜切衬底,要求氧化镓晶锭直径至少达到6英寸的同时,厚度也必须达到11.5mm以上。因此,制备大尺寸厚晶锭,是制作斜切衬底所面临的第一个难点。
(2)大尺寸衬底的解理开裂与面型参数差
氧化镓衬底存在(100)与(001)两个解理面,在加工过程中极易产生解理开裂;同时,衬底尺寸越大往往也越难以保持平整,衬底的翘曲、弯曲、厚度偏差等面型参数就越难控制。

 
图5 示意图:不同角度斜切对晶锭厚度的需求
 
针对以上难点,镓仁半导体研发团队进行了成体系地研发攻关。
在晶体生长方面,团队对铸造法进行热场升级与工艺优化,成功制备出了6英寸厚晶锭,晶锭厚度达20mm以上【超链接,6寸厚锭新闻】。在衬底加工方面,团队结合设备改造,对加工工艺进行了全面优化,成功制备了高质量6英寸斜切衬底,衬底面型参数达到晶圆级标准。
 
 
**公司简介**
杭州镓仁半导体有限公司成立于2022年9月,是一家专注于氧化镓等宽禁带半导体材料研发、生产和销售的科技型企业。公司开创了氧化镓单晶生长新技术,拥有国际、国内发明专利十余项,突破了西方国家在氧化镓衬底材料上的垄断和封锁。镓仁半导体立足于解决国家重大需求,将深耕于氧化镓上游产业链的持续创新,努力为我国的电力电子等产业的发展提供产品保障。

免责声明:本文若是转载新闻稿,转载此文目的是在于传递更多的信息,版权归原作者所有。文章所用文字、图片、视频等素材如涉及作品版权问题,请联系本网编辑予以删除。

我要投稿
近期活动
帖子推荐更多

Copyright 2008-2026 21dianyuan.com All Rights Reserved 备案许可证号为:津ICP备10002348号-2