高性能可编程直流电源 在AFE、射频、激光器芯片测试中的应用

时间:2024-07-05 14:32来源:

摘要:随着半导体材料和制造工艺的不断升级,小型化、高性能化已成为芯片和器件的重要发展趋势,这意味着芯片的信号采集、处理、功耗等性能将得到持续提升,对于测试装置的精度、稳定性、集成度等重要指标,也提出了更高的标准和要求。

高性能可编程直流电源
在AFE、射频、激光器芯片测试中的应用

随着半导体材料和制造工艺的不断升级,小型化、高性能化已成为芯片和器件的重要发展趋势,这意味着芯片的信号采集、处理、功耗等性能将得到持续提升,对于测试装置的精度、稳定性、集成度等重要指标,也提出了更高的标准和要求。接下来,小编将为您分享NGI高性能可编程直流电源在AFE、射频、激光器芯片中的应用和相关案例。

AFE芯片

AFE(Analog Front End,模拟前端)芯片是一种用于模拟信号采集和处理的芯片,可对输入信号进行放大、滤波、采样、量化等处理,以便后端MCU进行分析。目前,AFE芯片已广泛应用于电动汽车、储能、医疗、工业等领域。
以电动汽车为例,AFE芯片是汽车电池电压、温度等参数采集的重要基础,因此,其电压采集精度的准确性、静态功耗是芯片设计、电池、主机厂等产业链上下游的关注重点。
NGI自主研发的N23010/N23020系列高精度多通道可编程直流电源可广泛应用于AFE芯片测试。产品具有如下特点:
·高精度:电压精度最高可达0.1mV,可满足市面主流规格AFE芯片电压测试需求;
·高集成度:3U空间最多可集成24通道,较传统桌面式电源节省超50%空间,可满足封测、流片、生产等大规模测试场景需求;
·功能丰富:支持nA级电流测量,满足芯片或拼板漏电流测试需求,为客户节省额外高精度数字万用表的采购成本


 

射频芯片

射频芯片是一种对信号进行放大、滤波、开关切换等处理的器件,广泛应用于雷达、通信、医疗、消费类电子等行业。纹波容易导致芯片输出混有杂散信号,影响信号处理。因此,供电电源输出纹波和稳定性对射频芯片性能至关重要。
以国内某TOP3射频芯片厂家Z为例,前期Z需针对射频功率芯片进行高温老化寿命测试(HTOL),单次测试时间高达1000h,样品须至少231片,前期Z在老化测试过程中,面临测试过度占用空间、额外增加成本等问题:
·占用空间:为满足多批次测试需求,须使用8台传统桌面式程控电源,占用至少12U空间

·额外增加成本:为测试芯片漏电流,须采购高精度数字万用表,也额外占用测试空间。经多方技术比对后,Z选择了N23010高精度多通道可编程直流电源,解决了空间和成本问题。

·19英寸3U标准空间集成24通道,仅传统方案的四分之一;

·电源集成μA级漏电流测量功能,可有效降低客户采购成本;

·电压纹波≤2mVrms,长时间稳定性≤80ppm/1000h,可保证测试供电质量的纯净性和稳定性。


半导体激光器芯片

半导体激光器已广泛应用于材料加工、医疗、光通信、传感、国防等领域,而激光器芯片是激光器的核心部件,目前恒流老化测试已贯穿于研发、生产、品控等全流程环节。以国内某规模TOP2激光二极管芯片生产企业L为例,前期老化测试过程中,面临如下两方面问题:
·传统程控电源本身启动瞬间容易出现电流过冲,开机后需要将电源调整为恒流模式,否则容易烧坏芯片;
·电源输出电流最大5A,仅支持20块老化板,且产品不支持序列模式,导致老化测试效率偏低
针对前期客户需求,NGI提供了更安全可靠、更大输出电流的N39200高精度双通道可编程电源。首先,N39200支持CC&CV优先输出模式,可保证输出平稳无过冲;同时,电源支持序列模式,支持8A/10A/20A等多种输出电流,支持更多老化板测试,经验证,单台A电源便可支持30块老化板,对比前期测试方案,效率提升50%
NGI将持续深耕场景需求和行业应用,不断推出业界领先的产品和测试方案,全方位解决客户实际应用需求,加速推进标准化体系建设,助力中国半导体行业高质量发展。





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