传导超标整改:分析、建模、验证

时间:2019-01-04 11:37来源:21Dianyuan

摘要:本文将结合一个传导超标的案例,进行分析、建模,最后对策验证。主要目的是演示这个过程,举一反三,在整改的过程中达到事半功倍的效果。

* 本文作者:拒绝变帅,感谢作者的辛勤付出。
 
关于传导和辐射整改,实际中看到比较多的是出现超标后,直接尝试不同的方法后找出对策,运气好的第一招就有效,几分钟搞定,运气不好的最后一招才搞定可能一周、一个月就过去了。 

对于传导和辐射整改的整改方法,我自己把它划为两大类: 
① 逐一尝试:预先列出几十条整改方法,一条条试
② 对症下药:结合理论分析和经验,有针对性地下对策

本文将结合一个传导超标的案例,进行分析、建模,最后对策验证。 主要目的是演示这个过程,举一反三,在整改的过程中达到事半功倍的效果。

文章大纲

1. 基础知识回顾
1.1 散热片、屏蔽层、Y 电容的作用机理
1.2 差模噪音路径和模型
1.3 共模噪音路径和模型
2. 实际案例:分析和建模
2.1 骚扰路径分析
2.2 建模和模型参数确认
3. 根据分析,提出建议对策
4. 进行试验验证
5. 结论
 
基础知识回顾

电脑没有画图软件,只能用 PowerPoint 来画。以反激拓扑为例,下面先看看散热片的作用,见下图: 
 
 
 
其中:
C1 为 MOS 与散热片的寄生电容
C2 为散热片与大地 PE 之间的寄生电容

✔ 散热片悬空时,共模电流 icm 会通过 C2 流到大地,从而被 LISN 拾到,导致共模干扰增加。
✔ 散热片接地时,共模电流 icm 被短路到原边干扰源的地,不经过 LISN,即降低了共模干扰。
 
1. 大家都知道会增加漏感,但很少人会去进一步想到底增加了多少漏感?比如从原来的 10uH 变到了12uH,还是 20uH?其实微小变动想增加到 20uH 都很难。
 
再说说对效率的影响。
这里的效率指的是平均效率 (25%、50%、75%、100%这4个载的效率和取平均)。漏感影响最大的是100%,随着负载的降低,漏感的影响越来越小直至可忽略,最后对平均效率的影响很多都是在0.1%以下,基本可忽略。
 
2. 调整绕组对 EMI 的影响有多少 dB,我在另一个贴中《小功率开关电源中辅助供电 VCC 设计相关总结》中有解释。其实说多少 dB 可能都是基于自己所碰到的情况,主观色彩较浓。

3. 以上是基于小功率开关电源来说的,对于大功率的,情况可能不一样,而且成本和空间比较宽裕,不需要抠那么细。
 
看看变压器屏蔽层的作用,见下图:
 
 

有无 Y 电容的区别:
 
 

从上面的分析可以看出,其实散热片、屏蔽、Y 电容,对 EMI 的作用机理是一样的,即都为干扰信号提供一条低阻抗回路,让干扰信号返回源端,让其不从 LISN 经过。
 
下面看一下共模和差模路径以及对应的简化模型。以反激拓扑为例,同时由于副边的 dV/dt 一般较小,这里省去了,突出主要部分。

下面是差模的路径和模型:
 
 
 
从以上可以看出 Cbus 对 EMI 的影响,尤其是冷热机的差异。 电解的 ESR 随着温度的升高而降低,有利于干扰信号的流过,这也是一些案例热机后 EMI 会变好的原因之一
 
下面是共模路径和简化模型:
 
 

从以上的模型可以看出,不管是差模还是共模,EMI 的本质就是欧姆定律。无非就是串联分压和并联分流,通过各种方法让 LISN 少分压、少分流而已。
 
 
 
EUT 产生的干扰噪声依次通过 LISN 内部的高通滤波器和 50Ω 电阻,在 50Ω 电阻上得到相应的信号值送到接收机进行分析。
 
实际案例

这是个 90W 的例子,PFC+flyback 的两极结构。基本情况如下:
① 桥前的 EMI 滤波器架构是:小 X 电容+小共模+大 X 电容+大共模;
② 桥后就是 PFC+flyback 电路,重点不讲电路,这里就不画图了;
③ 原副边的地之间接有 Y 电容,Y 电容的一个脚套有磁珠;
④ 输出端的 Vo 与 GND 之间有个小共模。

现象 (测试时输出 GND 与大地连接) 是:
 
 
冷机
 
 
热机
 
从以上波形可以看出,热机后在 15~16MHz 的传导变差很多。裕量不足,需要整改,目标是达到≥10dB 的裕量。
 
现象分析

▪ 传导在10几 MHz 的高频处超标,一般是共模干扰超标引起的。
▪ 测试是输出与地连接的情况下超了,说明地线参与了耦合干扰,从这也证明了这是共模干扰超标。
此共模干扰从源端产生,经变压器的一二次侧寄生电容传到次级,一部分被 Y 电容传回原边,另一部分经过输出端的共模阻隔后通过负载的接地线传到 LISN。

根据以上分析以及共模路径图,建立如下模型:
 
 

其中:
Z2 为变压器一二次侧寄生电容的阻抗;
Z3 为 Y 电容和所串的磁珠的阻抗;
Z4 为输出共模的阻抗;
Z5 为 LISN 的阻抗。
 
从以上模型图可以得知:
① 要降低共模干扰 Vlisn,有多种方法,比如降低 Vnoise、增大 Z2、减小 Z3、增大 Z4。
② 降低 Vnoise 就是从源端解决了,一般会影响效率,改动太大。
③ 增大 Z2,就是减小变压器一二次侧寄生电容,这个目前已是比较优化的结构,改动效果不明显。
④ 减小 Z3,可以通过增大 Y 电容实现。
⑤ 增加 Z4,就是提升输出共模的阻抗。
 
方法建议

经过实测,增大 Y 电容可以降 5dB,但会导致漏电流超出客户规格,无法导入。
 
那就看增加 Z4 阻抗了,其实热机后会变差也是由于 Z4 的阻抗特性发生了变化,尝试过降低 Z4 的温度,但由于电流较大,温度仍然较高,效果不明显。

难道没办法了吗?
细看模型,Z3 回路还包括磁珠的阻抗,是否可以通过去掉磁珠来解决呢?

下面去掉后的实测效果:
 
 

结果是改善3~4dB,虽然没有加大 Y 电容的效果好,但有足够的裕量了,同时不影响效率,还降低了成本,两全其美啊!

其实,还要去确认辐射。结果辐射在 30M~40M 的地方变差了 2dB。好在即使变差也有足够的裕量,不用再去头疼了。至此,问题解决!

此帖通过分析、建模和最后验证,说明了传导整改是有章可循的,有了理论指导,实践起来就会事半功倍。 案例本身不难,希望是通过例子能够举一反三,在整改中发挥作用。 技术这东西,说穿了就那么回事,在没说穿的时候又有多少人可以自己看穿。 
 

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