电动汽车市场最受欢迎的数字隔离技术了解一下!

时间:2018-06-04 16:45来源:Silicon Labs

摘要:SiliconLabs(亦称“芯科科技”)日前举办一场网络研讨会,主题为:“隔离技术在电动汽车中的应用”,由SiliconLabs高级应用工程師黄科涛先生主讲,会中详细介绍了电动汽车的隔离设计需求,AEC-Q100认证和相关测试重点,以及SiliconLabs优异的数字隔离解决方案。

Silicon Labs 日前举办一场网络研讨会,主题为:“隔离技术在电动汽车中的应用”,由Silicon Labs高级应用工程師黄科涛先生主讲,会中详细介绍了电动汽车的隔离设计需求,AEC-Q100认证和相关测试重点,以及Silicon Labs优异的数字隔离解决方案。
 
 
 
电动汽车为何需要隔离设计
电动汽车内部有许多高电压系统,因此设计者必须提供高电压至12V的保护,而轻型混合动力车则需要12V至48V的保护。总结有三点是电动汽车需要隔离的主要原因:


• 高电压的安全性:可以安全地在400V功率MOSFET的场合使用3.3VMCU
• 连接具有不同接地参考的子系统:3.3VMCU区域和400V区域实现无失真的信号传输
• 抗噪声干扰:接地回路没有电流- 消除噪音
 
下图为目前市场上主要应用的隔离技术:
 
 
 
Silicon Labs隔离技术
Silicon Labs 数字隔离产品组合利用我们卓越的隔离和高压专业知识,以提高电力系统的性能、灵活性和可靠性,同时减少系统尺寸和成本。我们的产品家族包括 CMOS 数字隔离器、隔离栅极驱动器、隔离电流传感器、隔离式系统产品和隔离式 FET 驱动器系列。全部隔离产品组合最高支持 5 kV 的隔离电压。
 
比起传统的光电耦合器,我们的 CMOS 隔离产品家族成本更低、尺寸更小、性能更高,功耗更低而且隔离电路更可靠。我们的隔离产品组合在现场服务中拥有超过 300 百万的隔离通道,被广泛的客户和应用所使用,包括工业自动化、交通系统、家庭娱乐电子产品和医疗系统。
 
 
 
由于所有的电介质都会老化,因此必须考量下列几点:

• 可靠性建模用于预测电介质寿命
• 所有电介质都可以使用时间相关的介质击穿(TDDB)方法进行建模
• TDDB考虑温度,电场和材料属性
• 已研究各种模型 - 如您在图表中所看到的 – 部分案例是E模型,1 / E模型和其他模型
• 其中,E模型最广泛使用在二氧化硅,也是最严格的
 
Silicon Labs进行了广泛的TDDB测试以证明使用寿命长
Silicon Labs产品具有最长的TDDB建模寿命,即使使用严格的E模型也是如此
正如TDDB的常见做法,在高温环境下,在2端子配置中的受测设备两端施加高电压和高温影响
 
Silicon Labs对汽车级隔离产品挑战的相应

• 电动汽车隔离设计面临的挑战:                              
- 高隔离电压和工作电压额定值     

低射频辐射            
低故障率(FITs)            
使用寿命长
精准的时序性能               
扩展温度范围                  
共模噪音                         
缺陷控制                                   
 

• Silicon Labs 解决方案
5 kVrms(UL); 高达1414 VRMS VIORM(VDE)
同类产品最佳,高抗扰度
比光耦好10倍
100年以上的隔离屏障寿命
<10 ns传播延迟
-40至+125°C

非常高的免疫力
零缺陷方法
 
SiliconLabs专精汽车隔离产品:

• 汽车设计方法
DFMEA:设计失效模式影响分析
符合AEC要求的故障和测试覆盖率

• 汽车产品发布支持包括:
遵照发布到制造(RTM)过程
PPAP:生产零件批准程序
IMDS:国际材料数据系统

• 汽车生产和认证
所有制造步骤的汽车级流程
符合AEC-Q100要求

• 持续的质量和可靠性
每季度的可靠性监测
用于良率和参数数据的统计库限制(SBL)

• 基于JEDEC JESD46的更改通知(PCN)
符合ZVEI PCN汽车指南
 
 
图说:Silicon Labs提供行业内最丰富、功能强大的隔离产品阵容
 
探索更多Silicon Labs隔离产品信息:
https://cn.silabs.com/products/isolation


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